其中的两种噪声事件分别称为静电放电（ElectrostaticDischarge，ESD）和电过载（Electrical Overstress，EOS）。本应用笔记讨论了这两种事件、导致这些事件的原因以及如何最大程度降低它们对应用的影响。
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... electrical output storage tube || 电讯号输出存储管 electrical overstress || 电气过应力 electrical panel || 配电板 ...
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To investigate the influence of electrical overstress (EOS) on reliability of power MOSFET, failure analysis was employed to research the reliability of devices including defects of solder void, gate open and die crack, respectively.
同时为了研究电过应力(Electxical Overstress)对功率MOSFET可靠性的影响,本文分别对含有焊料空洞、栅极开路和芯片裂纹缺陷的器件进行失效分析与可靠性研究。
参考来源 - 功率器件封装的失效分析技术及技术应用研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
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