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中国测试精选文章 关键词：电路板；边界扫描；板级测试；可测性设计；JTAG [gap=974]Key words: PCB； Boundary scan； Board level test； Design for test； JTAG
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为测试着想的设计(DFT, design for test)不是单个人的事 随着自动测试设备成为电子装配过程整体的一部分，DFT必须不仅仅包括传统的硬件使用问...
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...利诺伊大学电子与计算机工程学系，毕业后一直任职于美国Mentor Graphics公司，主要从事集成电路可测试性设计（Design For Test），验证，故障诊断（Diagnosis），Silicon Debug等研究。
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Design-For-Test 测试设计 ; 测试着想的设计 ; 关于可测试性设计 ; 测试性设计
Design for Test Engineer 可测性设计工程师 ; 西安华芯半导体可测性设计工程师
Design for test DFT 面向试验的设计
Design- for- Test 有半导体可测性设计
DFT Design for Test 产品的设计对测试的适合性 ; 面向测试的设计
dft design-for-test 面向测试设计
DFT design for test- 可测性设计
design for test concept 面向检测设计理念
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可测性设计 - 引用次数：23
A plan of Design For Test based of Boundary Scan testing is introduced for this signal processing system.
接着，提出了该信号处理系统基于边界扫描的可测性设计方案。
参考来源 - 基于多DSP的相控阵雷达高速实时信号处理系统的设计与开发可测试设计 - 引用次数：3Design for test(DFF) is an important testing technique addressing these challenges.
因此，无论是测试手段还是可测试设计，深亚微米技术都对它们提出了更为严峻的挑战。
参考来源 - 高清晰度电视ATSC -
可测性设计 - 引用次数：5 参考来源 - DSP可测性、测试方法和平台的研究
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双语例句原声例句权威例句
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The design of chip test controller of a security chip and design for test of corresponding cores are discussed in detail.
从可测性设计角度讨论了信息安全处理芯片的芯片级测试控制器的设计以及相应核的可测性设计。
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Understand design constraints such as design for cost, design for manufacturability and producibility, design for test, design for maintainability, etc.
理解设计限制，如成本设计、制造能力和生产能力设计、检验设计、维护设计等。
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Design for test is an important process in the chip design nowadays, testability design of wireless chip needs a much higher requirement of test technology.
可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节，针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求。
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Engineers,inventors, students and others come together to design and test different methods and materials for improving stoves.
VOA: special.2010.02.01
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First one, when I write a piece of code, especially code that has branches in it, when I design test cases for that piece of code, I should try and have a specific test case for each possible path through the code.
第一点，当我们写代码的时候，尤其是一些含有分支语句的代码的时候，当我为这些代码,设计测试用例的时候，我应该为每一个可能的程序路径,都设计一个特别的用例。
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