dynamic IDDQ test 动态IDDQ测试
iddq test
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Due to the diversity of the faults and manufacturing defects in CMOS IC, some of the faults can neither be defected by voltage test nor by IDDQ test.
由于CMOS集成电路中的故障和制造缺陷是多种多样的，其中有些故障既不能被电压测试也不能被稳态电流测试方法检测出来。
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