...性的其他措施 第10章参考文献 第11章 可测性设计 11.1 可测性设计概述 11.2 故障模型 11.2.1 固定故障模型(Stuck-at Fault Model) 11.2.2 延迟故障模型(Delay Fault Model) 11.2.3 静态电流(IDDQ)故障模型 11.3 高氏测度度量方法 11.3.1 可测性的测度 11.3.2 高...
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Single Stuck-at Fault Model 单固定故障模型
Testing based on stuck-at fault model is insufficient for high performance ICs, especially for CMOS circuits.
基于固定型故障模型的测试方法已不能满足高性能集成电路，尤其是对CMOS电路的测试要求。
The electric locomotive bang-bang circuit is converted into an equivalent digitalcombinational logic circuit for setting up its stuck-at fault model.
本文将机车继电器控制电路等效为数字组合逻辑电路，建立了它的固定故障等效模型。
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